低溫試驗(yàn)箱適用于非散熱和散熱兩類試驗(yàn)樣品�？己撕痛_定電工、電子產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。
低溫試驗(yàn)方法分為以下三類
非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)：--試驗(yàn)Aa：溫度突變
--試驗(yàn)Ab：溫度漸變
散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)：  --試驗(yàn)Ad：溫度漸變
低溫試驗(yàn)方法通常用于條件試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間是從試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定時(shí)開(kāi)始計(jì)算的。在特殊情況下，如果條件試驗(yàn)期間試驗(yàn)樣品達(dá)不到溫度穩(wěn)定，則試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間從試驗(yàn)箱達(dá)到規(guī)定試驗(yàn)溫度時(shí)開(kāi)始計(jì)算。
相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定：
a）試驗(yàn)箱內(nèi)溫度變化速率；
b）試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱的時(shí)間；
c）試驗(yàn)樣品在試驗(yàn)條件下暴露試驗(yàn)開(kāi)始的時(shí)間；
d）試驗(yàn)樣品通電或加負(fù)載的時(shí)間。
在這些條件下，相關(guān)規(guī)范的制定者可根據(jù)GB/T 2424.1-1989導(dǎo)則選定以上4個(gè)參數(shù)（以上條件下的修訂正在考慮之中）