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| 試驗箱GBT2423標準的組成部分（下節(jié)） |
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| 時間：2013/6/21 8:40:23 |
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GB/T 2423.32-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ta:潤濕稱量法可焊性
GB/T 2423.33-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Kca：高濃度二氧化硫試驗
GB/T 2423.34-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AD：溫度/濕度驗合循環(huán)試驗
GB/T 2423.35-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗
GB/T 2423.36-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗
GB/T 2423.37-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗L：沙塵試驗
GB/T 2423.38-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗R：水試驗方法和導則
GB/T 2423.39-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ee:彈跳
GB/T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
GB/T 2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 風壓試驗方法
GB/T 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 低溫/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗方法
GB/T 2423.43-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 振動、沖擊和類似動力學試驗樣品的安裝
GB/T 2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABDM：氣候順序
GB/T 2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fg:聲振
GB/T 2423.48-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ff:振動-時間歷程法
GB/T 2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fe:振動-正弦拍頻法
GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗
GB/T 2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ke:流動混合氣候腐蝕試驗
GB/T 2423.52-2003 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗77:結構強度與撞擊
GB/T 2423.53-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗XB：由手的摩擦造成標記和印刷文字的磨損
GB/T 2423.54-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Xc：液體污染
GB/T 2423.55-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Eh：錘擊試驗
GB/T 2423.56-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fh：寬帶隨機振動（數(shù)字控制）和導則
GB/T 2423.57-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ei：沖擊 沖擊響應譜合成
GB/T 2423.101-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 傾斜和搖擺
GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合 |
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